蔡司FIB掃描電鏡CrossbeamPCB硬板質量檢測
分類:公司新聞 發布時間:2023-11-17 30895次瀏覽
印製電路板(PCB)主要用於實現電子元器件之間的相互連接和中繼傳輸,是電子信...
印製電路板(PCB)主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)實(shi)現(xian)電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件(jian)之(zhi)間(jian)的(de)相(xiang)互(hu)連(lian)接(jie)和(he)中(zhong)繼(ji)傳(chuan)輸(shu),是(shi)電(dian)子(zi)信(xin)息(xi)產(chan)品(pin)中(zhong)不(bu)可(ke)或(huo)缺(que)的(de)基(ji)礎(chu)組(zu)件(jian),是(shi)各(ge)種(zhong)電(dian)子(zi)整(zheng)機(ji)產(chan)品(pin)的(de)重(zhong)要(yao)組(zu)成(cheng)部(bu)分(fen),在(zai)電(dian)子(zi)信(xin)息(xi)產(chan)業(ye)鏈(lian)中(zhong)起(qi)著(zhe)承(cheng)上(shang)啟(qi)下(xia)的(de)關(guan)鍵(jian)作(zuo)用(yong)。隨(sui)著(zhe)智(zhi)能(neng)手(shou)機(ji)、平板電腦、可穿戴設備等電子產品向智能化、小型化和功能多樣化的發展趨勢,PCB上需要搭載的元器件大幅度增加但要求的尺寸、重量、體積卻不斷縮小。此外,電子產品還要滿足更長續航時間的要求。在這樣的背景下,PCB的導線寬度、間距,微孔盤直徑,以及導體層和絕緣層的厚度都在不斷變得更小。

而傳統HDI受限於工藝難以滿足這些要求。因此堆疊層數更多、線寬線距更小、能夠承載更多功能模組的SLP技術成為解決這一問題的必然選擇。相同功能的PCB,SLP和HDI相比,可以大大減少所需的麵積和厚度,從而為電子產品增加電池容量騰出更多空間。
SLP(substrate-like PCB),也叫類載板(SLP),是新一代PCB硬板。SLP采用MSAP製程,可以將線寬/間距從HDI的40/50μm縮短到20/35μm,實現更高的線路密度。和HDI一樣,SLP也需要將盲孔填平,以利於後續的疊孔和貼裝元器件。但是MSAP工藝是在圖形電鍍下填充盲孔,容易出現線路均勻性差的問題, 線路中過厚的銅區域會導致夾膜,圖形間的幹膜無法完全去除, 閃蝕後會造成銅殘留從而導致短路。
中山蔡司FIB雙束中山掃描電鏡Crossbeam 將場發射中山掃描電鏡(FE-SEM)鏡筒的強大成像和分析性能與新一代聚焦離子束(FIB中山掃描電鏡)的優異加工能力相結合,快速檢查SLP內nei層ceng線xian路lu間jian的de殘can留liu銅tong情qing況kuang。通tong過guo飛fei秒miao激ji光guang係xi統tong,快kuai速su到dao達da感gan興xing趣qu的de深shen埋mai位wei置zhi,大da幅fu度du提ti升sheng樣yang品pin分fen析xi效xiao率lv。值zhi得de一yi提ti的de是shi,激ji光guang加jia工gong在zai獨du立li的de艙cang室shi內nei完wan成cheng,不bu會hui汙wu染ran電dian鏡jing主zhu艙cang室shi和he探tan測ce器qi。Crossbeam電鏡還可以與三維中山X射線顯微鏡進行關聯,精準定位深埋在樣品內部的缺陷區域。
中山蔡司擁yong有you豐feng富fu的de產chan品pin線xian包bao含han顯xian微wei鏡jing,蔡cai司si藍lan光guang掃sao描miao儀yi,蔡cai司si三san坐zuo標biao,全quan方fang位wei的de質zhi量liang解jie決jue方fang案an助zhu力li客ke戶hu解jie決jue在zai印yin製zhi電dian路lu板ban新xin技ji術shu升sheng級ji過guo程cheng中zhong可ke能neng麵mian臨lin的de挑tiao戰zhan與yu痛tong點dian。
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